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三維掃描儀應用于產品質量控制
2023-11-08
質量控制是為確保所制造的零部件符合一組規(guī)定的質量標準或客戶要求的過程。通常涉及測量、檢查、測試或檢驗零部件上的各種特征，并將其與標準和規(guī)范（如CAD模型）進行比較，以確定是否符合要求。制造過程中的質量檢測很重要，因為它保證了始終如一的產品質量，并幫助公司保持高制造標準。消費者是那...
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如何操作倒置偏光顯微鏡以獲得清晰的圖像？
倒置偏光顯微鏡是一種常用的顯微鏡，它結合了倒置顯微鏡和偏光顯微鏡的特點，用于觀察和分析具有雙折射性質的樣品，如晶體、礦物、纖維、聚合物以及生物組織中的膠原纖維等。為了獲得清晰的圖像，正確操作至關重要。以下是倒置偏光顯微鏡的操作步驟：1、調節(jié)照明系統(tǒng)：首先確保照明系統(tǒng)設置正確。打開照明源，調節(jié)光強度適合您的樣本。使用偏光片和分析器，確保光線是偏振的，并且垂直于樣品表面。2、調節(jié)偏光輪：顯微鏡上通常有一個稱為偏光輪的裝置，可以旋轉以調節(jié)偏振光的方向。根據您的樣品特性，選擇合適的偏...
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顯微拉曼光譜儀的工作原理與應用
顯微拉曼光譜儀是一種集成了顯微鏡與拉曼光譜儀功能的高精度分析儀器，其工作原理與應用十分廣泛。工作原理上，顯微拉曼光譜儀主要通過激光照射樣品，然后收集并分析散射光的頻率和強度來獲取信息。具體來說，激光器發(fā)射單色激光聚焦在樣品上，樣品吸收激光能量后產生振動和轉動，導致分子能級躍遷。當分子回到低能級時，會發(fā)射出與入射激光頻率不同的散射光，即拉曼散射光。這種散射光的頻率與入射光的頻率之差稱為拉曼位移，它反映了樣品的化學成分和結構信息。通過光譜儀將拉曼散射光分散成不同波長的光，并用檢測...
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中國地質科學院地球物理研究所Zeiss 偏光顯微鏡
一、儀器型號研究級偏光顯微鏡（ZeissAxioScopeA1）二、主要性能參數標準放大倍數為25X-500X；寬視場雙目觀察，10X/23高眼點，帶視度補償目鏡，配置預裝10/100十字線測微尺；高精度色差校正技術偏光物鏡，2.5X、5X、10X、20X、50X（透射）、50X（反射）；配有固定光程差測量補償器λ；偏光旋轉載物臺可旋轉360°，旋轉調節(jié)精度0.1°。三、應用領域巖石、礦石光薄片礦物組成、光學特征，結構以及構造特征以及各礦物間的相互關系。研究級偏光顯微鏡（Ze...
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數字高速相機在科研領域的探索與應用
數字高速相機在科研領域的探索與應用極為廣泛且深入，成為眾多學科研究中的工具。其高幀率、高分辨率和快速捕捉能力，使得科研人員能夠以前未有的精度和細節(jié)觀察和分析動態(tài)事件。在材料科學中，數字高速相機被廣泛應用于材料力學、沖擊測試及相變研究等領域。它能夠捕捉到材料在受力下的微小變形和斷裂行為，為評估材料的強度、韌性和可靠性提供關鍵數據。在沖擊測試中，高速相機能夠記錄材料在高速沖擊下的形變過程，提供詳細的應力分布和斷裂行為信息，為材料設計和結構改進提供重要指導。此外，數字高速相機在生物...
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蔡司光學顯微鏡在設備制造業(yè)助力質量與創(chuàng)新的雙重發(fā)展
光學顯微鏡作為精密科學儀器，在制造業(yè)中扮演著重要的角色。通過利用光學原理放大微小物體，光學顯微鏡使人類能夠觀察到肉眼無法直接看到的細節(jié)。在制造業(yè)中，這一特性被廣泛應用于質量控制、產品研發(fā)、材料分析等多個環(huán)節(jié)。而蔡司作為光學顯微鏡領域的翹楚，其提供的光學顯微鏡材料解決方案更是為制造業(yè)帶來了便利與精準。1確保產品品質的基石在制造業(yè)中，質量控制是確保產品符合標準、滿足客戶需求的關鍵環(huán)節(jié)。蔡司的光學顯微鏡，如Stemi305/508、SteREODiscovery等，憑借其高放大倍數...
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舉例說明蔡司顯微鏡在電子行業(yè)主要哪些領域具有應用優(yōu)勢 ？
●半導體制造：△晶圓檢測：在半導體晶圓的生產過程中，蔡司顯微鏡可用于檢測晶圓表面的缺陷、顆粒污染、劃痕等問題。例如，通過高分辨率的成像，可以清晰地觀察到晶圓表面微小的瑕疵，幫助提升晶圓的質量和成品率。半導體企業(yè)英特爾（Intel）在芯片制造過程中，會使用蔡司顯微鏡對晶圓進行檢測。比如在光刻環(huán)節(jié)后，利用蔡司顯微鏡檢查晶圓上的圖案是否符合設計要求，包括線條的寬度、間距以及圖案的完整性等，確保芯片的功能和性能?！餍酒Y構分析：對于芯片內部的復雜結構，如晶體管、電路布線等，蔡司顯微鏡...
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如何運用蔡司X射線顯微鏡進行電子器件的高分辨無損三維檢測？
以下是運用蔡司X射線顯微鏡進行電子器件高分辨無損三維檢測的一般步驟和要點：一、樣品準備：1、確保電子器件樣品干凈、干燥，無油污、灰塵等雜質，以免影響成像質量。2、如果樣品尺寸較大，需檢查是否符合蔡司X射線顯微鏡的樣品尺寸要求，對于超出范圍的樣品可能需要進行適當切割或處理，但要注意避免對樣品造成額外損傷或改變其內部結構。3、對于一些特殊的電子器件，如含有易揮發(fā)或對X射線敏感的部件，需提前采取相應的保護措施或進行特殊處理。二、選擇合適的成像參數：1、X射線能量：根據電子器件的材料...
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